Главная > Разное > Активные фазированные антенные решетки
<< Предыдущий параграф
Следующий параграф >>
<< Предыдущий параграф Следующий параграф >>
Макеты страниц

5.5. Пеленгационные характеристики сферической решетки

Наиболее важными характеристиками в сканирующих ФАР РЛС являются пеленгационная характеристика и ее линейность, которые в конечном счете определяют точностные характеристики системы. При сканировании в секторе углов, не превышающем пеленгационные характеристики плоских ФАР мало изменяются. При широкоугольном сканировании, превышающем ±45°, в плоских ФАР, получивших наибольшее распространение, с отклонением луча уменьшается КНД антенной решетки и расширяется луч, что приводит к изменению пеленгационных характеристик. На эти характеристики также влияет АФР и относительные (по отношению к длине волны) размеры решетки. Особый интерес представляет рассмотрение сканирования в пределах ранее рассмотренных желаемых секторов и формирование моноимпульса при движении луча в этих же пределах

Изменение пеленгационных характеристик на первом этапе удобно рассматривать, используя понятие эквивалентного излучающего раскрыва. эквивалентного круглого раскрыва определяется выражением [5]

где радиус апертуры; координаты точек в раскрыве; - амплитудное распределение поля в раскрыве.

Для формирования суммарной применяют спадающее к краям распределение поля в раскрыве

для которого суммарная нормированная круглого раскрыва записывается в виде

Для формирования разностной применяют распределение

где — координаты точек в раскрыве; коэффициенты, характеризующие распределение поля, при этом разностная в плоскости определится по формуле [5]

где — гамма-функция, — биномиальные коэффициенты.

На рис. 5.14 показаны нормированные разностные эквивалентного раскрыва вблизи равносигнального направления.

Рис. 5.14. Разностные вблизи равносигнального направления в зависимости от угла раскрыва возбуждаемой части

В равносигнальном направлении крутизна разностной определяется в соответствии с выражением [5]

На рис. 5.15 показана нормированная зависимость крутизны разностной эквивалентного раскрыва от угла раскрыва возбуждаемой части в равносигнальном направлении.

(кликните для просмотра скана)

Разностные ДН (рис. 5.16) сферической решетки не изменяются при сканировании в секторе . При для уменьшения искажения разностной необходимо создать амплитудное распределение, соответствующее эллиптической форме эквивалентного раскрыва.

I Три сканировании размер малой оси эллипса меняется в зависимости от угла раскрыва возбуждаемой части по формулам (5.11), (5.13) или (5.15). Для определения моноимпульсных характеристик на первом этапе можно заменить эквивалентный эллиптический раскрыв плоским раскрывом с размером в вертикальной плоскости.

Нормированная разностная решетки запишется в виде:

при возбуждении сектора

при возбуждении сектора

при возбуждении сектора

<< Предыдущий параграф Следующий параграф >>
Оглавление